ENGLISH
La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Detection and location of faults and defects using digital signal processing

Thibeault, Claude. 1995. « Detection and location of faults and defects using digital signal processing ». In Proceedings 13th IEEE VLSI Test Symposium (Los Alamitos, CA, USA, Apr. 30-May 3, 1995) pp. 262-267. IEEE Computer Society Press.
Compte des citations dans Scopus : 14.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Rechercher dans Google Scholar
Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 27 mars 2014 15:59
Dernière modification: 27 mars 2014 15:59
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/7334

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt