Thibeault, Claude (1995) Detection and location of faults and defects using digital signal processing. In: NON SPÉCIFIÉ, Apr. 30-May 3, 1995, Los Alamitos, CA, USA.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTEST.1995.512647
| Type de document: | Document issu d'une conférence ou d'un atelier (NON SPÉCIFIÉ) |
|---|---|
| Déposé par: | Diane Girard |
| Date de dépôt: | 27 mars 2014 15:59 |
| Dernière modification: | 27 mars 2014 15:59 |
| URI: | http:///id/eprint/7334 |
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