A general and reliable model for GaN HEMTs on Si and SiC substrates

Jarndal, A., Essaadali, R. et Kouki, Ammar B.. 2015. « A general and reliable model for GaN HEMTs on Si and SiC substrates ». In 2015 IEEE 16th Annual Wireless and Microwave Technology Conference (WAMICON) (Cocoa Beach, FL, USA, Apr. 13-15, 2015) Piscataway, NJ, USA : IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/WAMICON.2015.7120400

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	978-1-4799-7521-1
Professeur:	Professeur Kouki, Ammar B.
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	21 juill. 2015 21:21
Dernière modification:	21 juill. 2015 21:21
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/10012

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