Trudel, Sylvie et Abran, Alain.
2009.
« Functional size measurement quality challenges for inexperienced measurers ».
In Software Process and Product Measurement : International Conferences IWSM 2009 and Mensura 2009 Amsterdam, The Netherlands, November 4-6, 2009. Proceedings (Amsterdam, The Netherlands, Nov. 4-6, 2009)
Coll. « Lecture Notes in Computer Science », vol. 5891.
pp. 157-169.
Springer Berlin Heidelberg.
Compte des citations dans Scopus : 7.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-05415-0_12
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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ISBN: | 978-3-642-05414-3 |
Éditeurs: | Éditeurs ORCID Abran, Alain NON SPÉCIFIÉ Braungarten, René NON SPÉCIFIÉ Dumke, Reiner R. NON SPÉCIFIÉ Cuadrado-Gallego, Juan J. NON SPÉCIFIÉ Brunekreef, Jacob NON SPÉCIFIÉ |
Professeur: | Professeur Abran, Alain |
Affiliation: | Génie logiciel et des technologies de l'information |
Date de dépôt: | 11 août 2015 20:45 |
Dernière modification: | 11 août 2015 20:45 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/10273 |
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