Souari, Anis, Thibeault, Claude, Blaquiere, Yves et Velazco, Raoul.
2016.
« Towards an efficient SEU effects emulation on SRAM-based FPGAs ».
Microelectronics Reliability, vol. 66.
pp. 173-182.
Compte des citations dans Scopus : 2.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2016.09.007
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
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Professeur: | Professeur Thibeault, Claude Blaquière, Yves |
Affiliation: | Génie électrique, Génie électrique |
Date de dépôt: | 16 déc. 2016 14:50 |
Dernière modification: | 12 sept. 2018 22:59 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14153 |
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