Blaquière, Yves, Gagné, Gabriel, Savaria, Yvon et Évéquoz, Claude.
1995.
« Cost analysis of a new algorithmic-based soft-error tolerant architecture ».
In IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'95) (Lafayette, LA, USA, Nov. 13-15, 1995)
pp. 189-197.
IEEE.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/dftvs.1995.476952
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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ISBN: | 10636722 |
Professeur: | Professeur Blaquière, Yves |
Affiliation: | Autres |
Date de dépôt: | 21 févr. 2017 14:56 |
Dernière modification: | 21 févr. 2017 14:56 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14631 |
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