Faults diagnosis methodology for the waferNet interconnection network

Basile-Bellavance, Yan, Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2009. « Faults diagnosis methodology for the waferNet interconnection network ». In Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA) (Toulouse, France, June 28-July 01, 2009) IEEE Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/NEWCAS.2009.5290412

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	21 févr. 2017 14:58
Dernière modification:	21 févr. 2017 14:58
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14640

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