Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit

Sion, Gontran, Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2015. « Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit ». In 21st IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) (Halkidiki, Greece, July 06-08, 2015) pp. 83-88. IEEE.
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Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	21 févr. 2017 14:53
Dernière modification:	21 févr. 2017 14:53
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14660

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