Trudel, Sylvie, Desharnais, Jean-Marc et Cloutier, Jimmy.
2016.
« Functional size measurement patterns: A proposed approach ».
In 26th International Workshop on Software Measurement and the 11th International Conference on Software Process and Product Measurement (IWSM-Mensura) (Berlin, Germany, Oct. 05-07, 2016)
pp. 23-34.
IEEE.
Compte des citations dans Scopus : 3.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/IWSM-Mensura.2016.016
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Desharnais, Jean-Marc |
| Affiliation: | Génie logiciel et des technologies de l'information |
| Date de dépôt: | 08 juin 2017 19:30 |
| Dernière modification: | 08 juin 2017 19:30 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/15317 |
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