On the use of ISO/IEC standards to address data quality aspects in big data analytics cloud services

Roy, Jonathan, Terfas, Hebatalla et Suryn, Witold. 2017. « On the use of ISO/IEC standards to address data quality aspects in big data analytics cloud services ». In 20th International Conference on Business Information Systems (BIS) 2017, June 28, 2017 - June 30, 2017 (Poznan, Poland, June 28-30, 2017) Coll. « Lecture Notes in Business Information Processing », vol. 288. pp. 149-164. Springer Verlag.
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Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	18651348
Éditeurs:	Éditeurs ORCID Abramowicz, Witold NON SPÉCIFIÉ
Professeur:	Professeur Suryn, Witold
Affiliation:	Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt:	24 août 2017 15:41
Dernière modification:	24 août 2017 15:41
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/15698

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