Analysis of backscattered ultrasound amplitude of Ti-5.8Al-4Sn-3.5Zr-0.7Nb-0.5Mo-0.3Si samples in terms of their microstructures and local textures

Humbert, M., Moreau, A., Uta, E., Gey, N., Bocher, Philippe et Bescond, C.. 2009. « Analysis of backscattered ultrasound amplitude of Ti-5.8Al-4Sn-3.5Zr-0.7Nb-0.5Mo-0.3Si samples in terms of their microstructures and local textures ». Acta Materialia, vol. 57, nº 3. pp. 708-714.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1016/j.actamat.2008.10.012

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Bocher, Philippe
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	13 juin 2012 18:13
Dernière modification:	19 oct. 2023 16:29
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/1578

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