Hasib, Omar Al-Terkawi et Crepeau, Daniel et Awad, Thomas et Dulipovici, Andrei et Savaria, Yvon et Thibeault, Claude (2018) Exploiting built-in delay lines for applying launch-on-capture at-speed testing on self-timed circuits. In: NON SPÉCIFIÉ, Apr. 22-25, 2018, San Francisco, CA, USA.
Le plein texte n'est pas disponible pour ce document.
URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTS.2018.8368637
| Type de document: | Document issu d'une conférence ou d'un atelier (NON SPÉCIFIÉ) |
|---|---|
| Déposé par: | Diane Girard |
| Date de dépôt: | 31 juill. 2018 15:54 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 20:14 |
| URI: | http:///id/eprint/17152 |
Gestion Actions (Identification requise)
- Dernière vérification avant le dépôt