Charfi, F., Messaoud, M. B., François, B., Al-Haddad, Kamal et Sellami, F..
2007.
« Enhanced micro modeling technique for semiconductor devices to study faulty mode in power converters ».
International Review of Electrical Engineering, vol. 2, nº 3.
pp. 327-336.
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| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Al Haddad, Kamal |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 13 juin 2012 18:14 |
| Dernière modification: | 01 oct. 2015 20:01 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/1731 |
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