Blanchard, François, Chai, Xin, Tanaka, Tomoko, Arikawa, Takashi, Ozaki, Tsuneyuki, Morandotti, Roberto et Tanaka, Koichiro.
2018.
« Terahertz microscopy assisted by semiconductor nonlinearities ».
Optics Letters, vol. 43, nº 20.
pp. 4997-5000.
Compte des citations dans Scopus : 12.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1364/OL.43.004997
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Blanchard, François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 16 oct. 2018 16:04 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 19:31 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17394 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |