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Terahertz microscopy assisted by semiconductor nonlinearities

Blanchard, François, Chai, Xin, Tanaka, Tomoko, Arikawa, Takashi, Ozaki, Tsuneyuki, Morandotti, Roberto et Tanaka, Koichiro. 2018. « Terahertz microscopy assisted by semiconductor nonlinearities ». Optics Letters, vol. 43, nº 20. pp. 4997-5000.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Blanchard, François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 16 oct. 2018 16:04
Dernière modification: 22 janv. 2020 19:31
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17394

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