Jebali, Chokri et Kouki, Ammar.
2018.
« Thermal effects analysis of GaN HEMT power amplifier based on LTCC substrate integration ».
In 2018 IEEE Canadian Conference on Electrical & Computer Engineering (CCECE) (Québec, QC, Canada, May 13-16, 2018)
Piscataway, NJ, USA : IEEE.
Compte des citations dans Scopus : 2.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/CCECE.2018.8447758
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Kouki, Ammar B. |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 17 oct. 2018 20:19 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 20:00 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17446 |
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