Moulins, A., Grosse, G., Esteves, A., Dugnani, R. et Zednik, R.. 2018. « Determining stresses in silicon-based microdevices using fractography ». Affiche présentée lors de la conférence : Nanomaterials for Devices (Montreal, QC, Canada, Sept. 10-12, 2018).
Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.| Type de document: | Affiche |
|---|---|
| Informations complémentaires: | Le résumé de l'affiche est disponible à la page 48 de Nanomaterials for devices : Italy/Canada Bilateral Workshop : Abstracts http://nanomaterialsfordevices.ism.cnr.it/wp-content/uploads/2018/09/Book-of-abstracts.pdf |
| Professeur: | Professeur Zednik, Ricardo |
| Affiliation: | Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 05 nov. 2018 18:57 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 20:17 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17485 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |