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AFM-IR: a new tool for nanoscale chemical characterization of polymer materials

Nguyen-Tri, Phuong, Moraille, Patricia et Prud’homme, Robert E.. 2016. « AFM-IR: a new tool for nanoscale chemical characterization of polymer materials ». Communication lors de la conférence : CSACS/CQMF Advanced Materials Annual Conference (Montreal, QC, Canada, May 3-4, 2016).

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Type de document: Communication (Communication)
Professeur:
Professeur
Nguyen-Tri, Phuong
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 18 mars 2019 16:27
Dernière modification: 18 mars 2019 16:27
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/18277

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