Amirkhan, F., Sakata, R., Takiguchi, K., Arikawa, T., Ozaki, T., Tanaka, K. et Blanchard, F..
2019.
« Characterization of thin film materials using near field THz imaging ».
In 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW) (Paris, France, Sept. 01-06, 2019)
IEEE.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/IRMMW-THz.2019.8874460
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Blanchard, François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 06 août 2019 18:34 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 19:31 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19074 |
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