Near-field imaging of terahertz nonlinearities in doped semiconductor thin film

Blanchard, François et Tanaka, K.. 2019. « Near-field imaging of terahertz nonlinearities in doped semiconductor thin film ». In International congress on advanced Materials Sciences and Engineering (AMSE) (Osaka, Japan, July 22-24, 2019)

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Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Blanchard, François
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	06 août 2019 18:34
Dernière modification:	22 janv. 2020 19:31
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19075

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