Blanchard, François. 2019. « Material characterization using 2D near-field THz imaging ». Communication lors de la conférence : International Workshop on Terahertz Technology (IWOTT) (Lake Louise, AB, Canada, 12-15 avril 2019).
Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.| Type de document: | Communication (Communication) |
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| Informations complémentaires: | Conférencier invité |
| Professeur: | Professeur Blanchard, François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 08 août 2019 13:41 |
| Dernière modification: | 22 janv. 2020 19:31 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19081 |
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