Diffracting-grain identification from electron backscatter diffraction maps during residual stress measurements: a comparison between the sin2ψ and cosα methods

Delbergue, Dorian, Texier, Damien, Lévesque, Martin et Bocher, Philippe. 2019. « Diffracting-grain identification from electron backscatter diffraction maps during residual stress measurements: a comparison between the sin2ψ and cosα methods ». Journal of Applied Crystallography, vol. 52, nº 4. pp. 828-843.
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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Bocher, Philippe
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	04 oct. 2019 18:49
Dernière modification:	04 oct. 2019 18:49
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19504

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