Dubois, David, Lepage, Richard et Hardy, Stéphane.
2010.
« Correction of cardinal effects in high resolution SAR imagery ».
In SAR Image Analysis, Modeling, and Techniques X (Toulouse, France, Sept. 21-23, 2010)
Coll. « Proceedings of SPIE », vol. 7829.
782906-1-782906-8.
Bellingham, WA, USA : SPIE - The International Society for Optical Engineering.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1117/12.865035
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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Informations complémentaires: | Identifiant de l'article: 782906 |
Professeur: | Professeur Lepage, Richard |
Affiliation: | Génie de la production automatisée |
Date de dépôt: | 23 mai 2012 17:55 |
Dernière modification: | 23 mai 2012 17:55 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/196 |
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