Al-Terkawi Hasib, Omar, Savaria, Yvon et Thibeault, Claude.
2019.
« Multi-PVT-point analysis and comparison of recent small-delay defect quality metrics ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), vol. 35, nº 6.
pp. 823-838.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
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Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 22 janv. 2020 18:46 |
Dernière modification: | 16 mars 2022 19:35 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/20051 |
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