Al-Terkawi Hasib, Omar, Savaria, Yvon et Thibeault, Claude.
2019.
« Multi-PVT-point analysis and comparison of recent small-delay defect quality metrics ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 35, nº 6.
pp. 823-838.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 22 janv. 2020 18:46 |
| Dernière modification: | 07 sept. 2024 17:36 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/20051 |
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