Al-Terkawi Hasib, Omar, Savaria, Yvon et Thibeault, Claude.
2019.
« Multi-PVT-point analysis and comparison of recent small-delay defect quality metrics ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), vol. 35, nº 6.
pp. 823-838.
Compte des citations dans Scopus : 1.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1007/s10836-019-05832-w
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 22 janv. 2020 18:46 |
| Dernière modification: | 16 mars 2022 19:35 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/20051 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |