Optimization of small-delay defects test quality by clock speed selection and proper masking based on the weighted slack percentage

Hasib, Omar Al-Terkawi, Savaria, Yvon et Thibeault, Claude. 2020. « Optimization of small-delay defects test quality by clock speed selection and proper masking based on the weighted slack percentage ». IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, vol. 28, nº 3. pp. 764-776.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/TVLSI.2019.2949037

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	16 avr. 2020 16:27
Dernière modification:	16 avr. 2020 16:27
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/20450

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