Specification and detection of business process antipatterns

Palma, Francis, Moha, Naouel et Guéhéneuc, Yann-Gäel. 2015. « Specification and detection of business process antipatterns ». In E-Technologies : 6th International Conference, MCETECH : Proceedings (Montréal, QC, Canada, May 12-15, 2015) Coll. « Lecture Notes in Business Information Processing », vol. 209. pp. 37-52. Springer Verlag.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1007/978-3-319-17957-5_3

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	18651348 (ISSN); 9783319179568 (ISBN)
Éditeurs:	Éditeurs ORCID Weiss, M. NON SPÉCIFIÉ Benyoucef, M. NON SPÉCIFIÉ Mili, H. NON SPÉCIFIÉ
Informations complémentaires:	6th International Conference on E-Technologies (MCETECH)
Professeur:	Professeur Moha, Naouel
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	21 oct. 2020 20:19
Dernière modification:	21 oct. 2020 20:19
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/21246

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