An accurate on-wafer deembedding technique with application to HBT devices characterization

Bousnina, Sami, Falt, Chris, Mandeville, Pierre, Kouki, Ammar B. et Ghannouchi, Fadhel M.. 2002. « An accurate on-wafer deembedding technique with application to HBT devices characterization ». IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 50, nº 2. pp. 420-424.
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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Kouki, Ammar B.
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	29 oct. 2012 20:47
Dernière modification:	29 oct. 2012 20:47
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2152

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