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Replacing IDDQ testing: with variance reduction

Thibeault, Claude. 2003. « Replacing IDDQ testing: with variance reduction ». Journal of Electronic Testing, vol. 19, nº 3. pp. 325-340.
Compte des citations dans Scopus : 9.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:47
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:47
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2229

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