Replacing IDDQ testing: with variance reduction

Thibeault, Claude. 2003. « Replacing IDDQ testing: with variance reduction ». Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 19, nº 3. pp. 325-340.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1023/A:1023761416156

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	29 oct. 2012 20:47
Dernière modification:	07 sept. 2024 17:38
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2229

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