Thibeault, Claude (2003) Replacing IDDQ testing: with variance reduction. Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 19 (3). pp. 325-340. ISSN 09238174
Le plein texte n'est pas disponible pour ce document.
URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1023/A:1023761416156
| Type de document: | Article |
|---|---|
| Déposé par: | Gaston Fournier |
| Date de dépôt: | 29 oct. 2012 20:47 |
| Dernière modification: | 07 sept. 2024 17:38 |
| URI: | http:///id/eprint/2229 |
Gestion Actions (Identification requise)
- Dernière vérification avant le dépôt