A fast method to evaluate the optimum number of spares in defect-tolerant integrated-circuits

Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1994. « A fast method to evaluate the optimum number of spares in defect-tolerant integrated-circuits ». IEEE Transactions on Computers, vol. 43, nº 6. pp. 687-697.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/12.286302

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	29 oct. 2012 20:47
Dernière modification:	29 oct. 2012 20:47
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2231

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