Amyot, N., David, Éric, Lee, S. Y. et Lee, I. H..
2002.
« Influence of post-manufacturing residual mechanical stress and crosslinking by-products on dielectric strength of HV extruded cables ».
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, vol. 9, nº 3.
pp. 458-466.
Compte des citations dans Scopus : 29.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/tdei.2002.1007710
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
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Professeur: | Professeur David, Éric |
Affiliation: | Génie mécanique |
Date de dépôt: | 29 oct. 2012 20:47 |
Dernière modification: | 29 oct. 2012 20:47 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2250 |
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