Anti-patterns in modern code review: Symptoms and prevalence

Chouchen, Moataz, Ouni, Ali, Kula, Raula Gaikovina, Wang, Dong, Thongtanunam, Patanamon, Mkaouer, Mohamed Wiem et Matsumoto, Kenichi. 2021. « Anti-patterns in modern code review: Symptoms and prevalence ». In IEEE International Conference on Software Analysis, Evolution and Reengineering (SANER) (Honolulu, HI, USA, Mar. 09-12, 2021) pp. 531-535. IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/SANER50967.2021.00060

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Ouni, Ali
Affiliation:	Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt:	08 juin 2021 19:28
Dernière modification:	08 juin 2021 19:28
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/22797

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