Characterization of room-temperature processed thin film capacitors under curvature

Schell, E. V., Shih, Andy et Akinwande, A. I.. 2018. « Characterization of room-temperature processed thin film capacitors under curvature ». In MTL Annual Research Report 2018 : Section : Electronic, Magnetic, Superconducting, and Neuromorphic Devices. p. 122. Massachusetts Institute of Technology.

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URL Officielle: https://www.mtl.mit.edu/research/annualreport2018

Type de document:	Chapitre de livre
Informations complémentaires:	Résumé de recherche.
Professeur:	Professeur Shih, Andy
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	04 oct. 2021 17:52
Dernière modification:	04 oct. 2021 17:52
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/23270

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