Schell, E. V., Shih, Andy et Akinwande, A. I..
2018.
« Characterization of room-temperature processed thin film capacitors under curvature ».
In
MTL Annual Research Report 2018 : Section : Electronic, Magnetic, Superconducting, and Neuromorphic Devices.
p. 122. Massachusetts Institute of Technology.
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URL Officielle: https://www.mtl.mit.edu/research/annualreport2018
Type de document: | Chapitre de livre |
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Informations complémentaires: | Résumé de recherche. |
Professeur: | Professeur Shih, Andy |
Affiliation: | Autres |
Date de dépôt: | 04 oct. 2021 17:52 |
Dernière modification: | 04 oct. 2021 17:52 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/23270 |
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