Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels

Buglione, Luigi et Abran, Alain. 2006. « Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels ». In Proceedings of the International Conference on Software Process and Product Measurement : MENSURA 2006 (Cadiz, Spain, Nov. 4-5, 2006) pp. 29-41. Servicio de Publicaciones de la Universidad de Cádiz.

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Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	978-84-9828-101-9
Éditeurs:	Éditeurs ORCID Abran, Alain NON SPÉCIFIÉ Dumke, Reiner NON SPÉCIFIÉ Ruitz, Mercedes NON SPÉCIFIÉ
Professeur:	Professeur Abran, Alain
Affiliation:	Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt:	29 oct. 2012 20:48
Dernière modification:	29 oct. 2012 20:48
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2401

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