Baseline cortical thickness reductions in clinical high risk for psychosis: Brain regions associated with conversion to psychosis versus non-conversion as assessed at one-year follow-up in the shanghai-at-risk-for-psychosis (SHARP) study

Del Re, E. C., Stone, W. S., Bouix, S., Seitz, J., Zeng, V., Guliano, A., Somes, N., Zhang, T., Reid, B., Lyall, A., Lyons, M., Li, H., Whitfield-Gabrieli, S., Keshavan, M., Seidman, L. J., McCarley, R. W., Wang, J., Tang, Y., Shenton, M. E. et Niznikiewicz, M. A.. 2021. « Baseline cortical thickness reductions in clinical high risk for psychosis: Brain regions associated with conversion to psychosis versus non-conversion as assessed at one-year follow-up in the shanghai-at-risk-for-psychosis (SHARP) study ». Schizophrenia Bulletin, vol. 47, nº 2. pp. 562-574.
Compte des citations dans Scopus : 24.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Bouix, Sylvain
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	22 juin 2022 17:11
Dernière modification:	22 juin 2022 17:11
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24637

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt