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Baseline cortical thickness reductions in clinical high risk for psychosis: Brain regions associated with conversion to psychosis versus non-conversion as assessed at one-year follow-up in the shanghai-at-risk-for-psychosis (SHARP) study

Del Re, E. C., Stone, W. S., Bouix, S., Seitz, J., Zeng, V., Guliano, A., Somes, N., Zhang, T., Reid, B., Lyall, A., Lyons, M., Li, H., Whitfield-Gabrieli, S., Keshavan, M., Seidman, L. J., McCarley, R. W., Wang, J., Tang, Y., Shenton, M. E. et Niznikiewicz, M. A.. 2021. « Baseline cortical thickness reductions in clinical high risk for psychosis: Brain regions associated with conversion to psychosis versus non-conversion as assessed at one-year follow-up in the shanghai-at-risk-for-psychosis (SHARP) study ». Schizophrenia Bulletin, vol. 47, nº 2. pp. 562-574.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Bouix, Sylvain
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 22 juin 2022 17:11
Dernière modification: 22 juin 2022 17:11
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24637

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