Konishi, J., del Re, E. C., Bouix, S., Blokland, G. A. M., Mesholam-Gately, R., Woodberry, K., Niznikiewicz, M., Goldstein, J., Hirayasu, Y., Petryshen, T. L., Seidman, L. J., Shenton, M. E. et McCarley, R. W..
2018.
« Abnormal relationships between local and global brain measures in subjects at clinical high risk for psychosis: A pilot study ».
Brain Imaging and Behavior, vol. 12, nº 4.
pp. 974-988.
Compte des citations dans Scopus : 8.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1007/s11682-017-9758-z
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
---|---|
Professeur: | Professeur Bouix, Sylvain |
Affiliation: | Autres |
Date de dépôt: | 22 juin 2022 17:08 |
Dernière modification: | 22 juin 2022 17:08 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24670 |
Actions (Authentification requise)
Dernière vérification avant le dépôt |