Politowski, Cristiano, Petrillo, Fabio et Gueheneuc, Yann-Gael.
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In IEEE/ACM International Conference on Automation of Software Test (AST) (Madrid, Spain, May 20-21, 2021)
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
Compte des citations dans Scopus : 23.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/AST52587.2021.00018
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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Professeur: | Professeur Petrillo, Fabio |
Affiliation: | Autres |
Date de dépôt: | 06 juill. 2022 21:29 |
Dernière modification: | 06 juill. 2022 21:29 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24842 |
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