Log severity levels matter: A multivocal mapping

Mendes, Eduardo et Petrillo, Fabio. 2021. « Log severity levels matter: A multivocal mapping ». In IEEE 21st International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS) (Hainan, China, Dec. 06-10, 2021) pp. 1002-1013. Institute of Electrical and Electonics Engineers.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/QRS54544.2021.00109

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	2693-9177
Professeur:	Professeur Petrillo, Fabio
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	06 juill. 2022 21:29
Dernière modification:	06 juill. 2022 21:29
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24872

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