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Log severity levels matter: A multivocal mapping

Mendes, Eduardo et Petrillo, Fabio. 2021. « Log severity levels matter: A multivocal mapping ». In IEEE 21st International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS) (Hainan, China, Dec. 06-10, 2021) pp. 1002-1013. Institute of Electrical and Electonics Engineers.

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Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 2693-9177
Professeur:
Professeur
Petrillo, Fabio
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 06 juill. 2022 21:29
Dernière modification: 06 juill. 2022 21:29
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/24872

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