End-to-end deep learning framework for printed circuit board manufacturing defect classification

Bhattacharya, Abhiroop et Cloutier, Sylvain G.. 2022. « End-to-end deep learning framework for printed circuit board manufacturing defect classification ». Scientific Reports, vol. 12, nº 1.
Compte des citations dans Scopus : 85.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: https://doi.org/10.1038/s41598-022-16302-3

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Cloutier, Sylvain G.
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	24 août 2022 18:35
Dernière modification:	24 août 2022 18:35
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/25093

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt