Bhattacharya, Abhiroop et Cloutier, Sylvain G..
2022.
« End-to-end deep learning framework for printed circuit board manufacturing defect classification ».
Scientific Reports, vol. 12, nº 1.
Compte des citations dans Scopus : 25.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1038/s41598-022-16302-3
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Cloutier, Sylvain G. |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 24 août 2022 18:35 |
| Dernière modification: | 24 août 2022 18:35 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/25093 |
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