Piraghaj, Sudabeh Piraghaj et Constantin, Nicolas G..
2022.
« A low-cost, minimally-invasive embedded monitoring method for early detection of transistor on-state resistance degradation in power electronics systems ».
In 20th IEEE Interregional NEWCAS Conference (IEEE NEWCAS) (Quebec City, QC, Canada, June 19-22, 2022)
pp. 352-356.
IEEE.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1109/NEWCAS52662.2022.9842075
Type de document: | Compte rendu de conférence |
---|---|
ISBN: | 978-1-6654-0105-0 |
Professeur: | Professeur Constantin, Nicolas |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 17 oct. 2022 14:00 |
Dernière modification: | 17 oct. 2022 14:00 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/25649 |
Actions (Authentification requise)
Dernière vérification avant le dépôt |