Ali, Nasir, Wang, Qingsong, Gao, Qiang et Ma, Ke.
2023.
« Fast detection of power transistor faults in SRM drives based on transient pulse injection ».
IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, vol. 11, nº 5.
pp. 5256-5267.
Compte des citations dans Scopus : 4.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/JESTPE.2023.3293002
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
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Professeur: | Professeur Wang, Qingsong |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 08 août 2023 14:32 |
Dernière modification: | 16 nov. 2023 16:06 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/27257 |
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