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Fast detection of power transistor faults in SRM drives based on transient pulse injection

Ali, Nasir, Wang, Qingsong, Gao, Qiang et Ma, Ke. 2023. « Fast detection of power transistor faults in SRM drives based on transient pulse injection ». IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics, vol. 11, nº 5. pp. 5256-5267.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Wang, Qingsong
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 08 août 2023 14:32
Dernière modification: 16 nov. 2023 16:06
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/27257

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