Hobeika, Christelle, Thibeault, Claude et Boland, Jean-François.
2008.
« Use of structural tests in RTL verification ».
In 1st Microsystems and Nanoelectronics Research Conference (MNRC) (Ottawa, Canada, Oct. 15, 2008)
pp. 133-136.
Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
Compte des citations dans Scopus : 5.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/MNRC.2008.4683396
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| ISBN: | 978-1-4244-2920-2 |
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude Boland, Jean-François |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 30 oct. 2012 18:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2018 15:08 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2757 |
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