MEMS based inclinometers: Noise characteristics and suitable signal processing

Schmidt, Roland, O'Leary, Paul, Ritt, Roland et Harker, Matthew. 2017. « MEMS based inclinometers: Noise characteristics and suitable signal processing ». In IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (Turin, Italy, May 22-25, 2017) Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/I2MTC.2017.7969830

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Harker, Matthew
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	26 sept. 2023 16:06
Dernière modification:	26 sept. 2023 16:06
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/27778

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