Al Hadi, Richard, Zhao, Yan, Li, Yilei, Du, Yuan et Chang, M. C. Frank.
2016.
« Retroactive terahertz displacement sensor in a standard 65nm CMOS technology ».
In CLEO: Science and Innovations (San Jose, CA, USA, June 05-10, 2016)
Optica Publishing Group (formerly OSA).
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URL Officielle: https://doi.org/10.1364/CLEO_SI.2016.STh3I.3
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Al Hadi, Richard |
| Affiliation: | Autres |
| Date de dépôt: | 05 juin 2024 13:27 |
| Dernière modification: | 05 juin 2024 13:27 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/28705 |
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