Al Hadi, Richard, Zhao, Yan, Li, Yilei, Du, Yuan, Curwen, Christopher, Lo, Michael K., Williams, Benjamin S. et Chang, M. -C. Frank.
2017.
« Multi-spectral terahertz interferometric imaging based on a monolithic retroactive silicon chip ».
In IEEE International Conference on Microwaves, Antennas, Communications and Electronic Systems (COMCAS) (Tel Aviv, Israel, Nov. 13-15, 2017)
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
Compte des citations dans Scopus : 6.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/COMCAS.2017.8244849
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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Professeur: | Professeur Al Hadi, Richard |
Affiliation: | Autres |
Date de dépôt: | 05 juin 2024 13:27 |
Dernière modification: | 05 juin 2024 13:27 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/28706 |
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