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2019.
« Inverted scanning microwave microscopy for nanometer-scale imaging and characterization of platinum diselenide ».
In IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Boston, MA, USA, June 02-07, 2019)
pp. 1115-1117.
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/MWSYM.2019.8701124
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Al Hadi, Richard |
| Affiliation: | Autres |
| Date de dépôt: | 05 juin 2024 13:28 |
| Dernière modification: | 05 juin 2024 13:28 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/28712 |
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