Terahertz imaging detectors in a 65-nm CMOS SOI technology

Öjefors, Erik, Baktash, Neda, Zhao, Yan, Al Hadi, Richard, Sherry, Hani et Pfeiffer, Ullrich R.. 2010. « Terahertz imaging detectors in a 65-nm CMOS SOI technology ». In 36th European Solid State Circuits Conference ESSCIRC (Seville, Spain, Sept. 14-16, 2010) pp. 486-489. Institute of Electrical and Electonics Engineers.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/ESSCIRC.2010.5619749

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Al Hadi, Richard
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	05 juin 2024 13:24
Dernière modification:	05 juin 2024 13:24
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/28720

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