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Improving digital IC testing with analog circuits

Thibeault, Claude. 2006. « Improving digital IC testing with analog circuits ». In IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS) (Gatineau, Que., Canada, June 18-21, 2006) pp. 285-288. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 1-4244-0416-9
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:19
Dernière modification: 30 oct. 2012 18:19
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2942

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