Improving digital IC testing with analog circuits

Thibeault, Claude. 2006. « Improving digital IC testing with analog circuits ». In IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS) (Gatineau, Que., Canada, June 18-21, 2006) pp. 285-288. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/NEWCAS.2006.250948

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	1-4244-0416-9
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	30 oct. 2012 18:19
Dernière modification:	30 oct. 2012 18:19
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2942

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