Thibeault, Claude.
2007.
« On a new outlier rejection technique ».
In IEEE VLSI Test Symposium (Berkeley, CA, USA, May 6-10, 2007)
pp. 97-103.
Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTS.2007.44
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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ISBN: | 0-7695-2812-0 |
Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 30 oct. 2012 18:19 |
Dernière modification: | 30 oct. 2012 18:19 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2943 |
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